PID测试标准介绍

发布时间：

2018-01-27 16:53

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一、情况说明

　　光伏应用越来越多，电站规模越来越大，太阳能电池组件问题也暴露的越来越多，功率降低、绝缘性差、脱层等现象不断出现,经过人们多年的研究发现，组件应用过程中出现问题的很大一部分原因是因为内部导电体与大地之间（通过边框）之间存在泄漏电流。长期泄漏电流会造成电池片载流子及耗尽层状态发生变化、电路中的接触电阻受到腐蚀、封装材料受到电化学腐蚀等问题，从而导致电池片功率衰减、串联电阻增大、透光率降低、脱层等影响组件长期发电量及寿命的现象。对组件来说，泄漏电途径如下图所示：

　　泄漏电的途径主要经过玻璃（I1）、EVA与玻璃的界面（I2）、EVA（I3）、背板材料（I4）和边框密封材料等到达边框 .

二、标准简介

　　PID测试标准引自IEC 82/685/NP：System voltage durability test for crystalline silicon modules，基本要求是准备3块组件。其中一块作为控制组件，组件置于一定温度和湿度的环境中，将组件的内部导电体与高压电源的一个极连在一起，组件外导电体与高压电源的另一极连在一起。一块组件在正偏压下进行老化，一块组件在负偏压下老化。测试条件如下：环境温度：60℃±2℃；环境湿度：85%±5% RH.

　　测试时间：96小时；测试电压：在组件需满足的正系统电压下或负系统电压下。组件老化前需经过光老化、外观检测、最大功率测试、绝缘测试、接地连续性测试（如果组件有外漏导电体），老化后需进行湿漏电测试、最大功率点测试、外观检测、绝缘测试。具体测试序列见下图所示：

三、目前光伏行业测试条件

　1)在25℃的温度下，在组件玻璃表面覆盖铝箔，1000V直流电施加在组件的输出端和铝框上168小时.

　2)组件先进行85%的湿度85℃高温测试，然后在60℃或85℃的环境下100小时，将1000V直流电施加在组件输出端和铝框上96-196小时.

　3）组件测试条件加严至温度85℃、相对湿度85%，负压1000V直流电压环境，测试时间为96h及以上.

四、苏州度辰抗PID胶膜研发情况

　　我司推出的SFX-D系列产品，目前采用双85实验条件，负压1000V，测试时间96h，衰减功率5%以内。

　　我司推出的POE系列产品，目前采用双85实验条件，负压1000V，测试时间500h，衰减功率5%以内。